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ADVANCES IN RESIST TECHNOLOGY AND PROCESSING XX, PTS 1 AND 2 (2003): 33-42
Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE (2002)
W Conley,K Dean,D Miller,G Rich,V Graffenberg, S Patel,SH Lin, A Jamieson, R Hung,S Yamada,M Pinnow, S MacDonald,C Chambers, B Osborne,K Patterson, M Somervell,B Trinque,HV Tran, S Cho,T Chiba,J Byers, B Tomas,G Shafer,D DesMarteau, J Klopp, J Frechet,D Sanders,R Grubbs,C Ober,H Korner,CG Willson
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