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Analysis of Guard-Gates on FF SEU Rates at a 12-Nm FinFET Node
Christopher J. Elash,Jiesi Xing, Peiman Pour Momen, Devin Ramaswami, Dylan Lambert, Harris Lu,Zongru Li,Shi-Jie Wen,Rita Fung,Li Chen
IEEE Transactions on Nuclear Scienceno. 99 (2025): 1-1
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Aging Characterization at Cryogenic Temperature with Synthesizable Odometers in 12NM and 28NM
Tahmida Islam, Junkyu Kim, Hanzhao Yu, Zheng Xue, Jacob Xing, Chris H. Kim, Jiesi Xing,Christopher Elash, Peiman Pour Momen,Li Chen
2025 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)pp.7B.3-1-7B.3-7, (2025)
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Analysis of Threshold Voltage Options on Flip-Flop SEU Performance at GF 12-Nm FinFET Node
Jiesi Xing,Christopher J. Elash, Peiman Pour Momen, Dylan Lambert, Jaime Cardenas Chavez,Shi-Jie Wen,Rita Fung,Li Chen
2024 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with 2024 NSREC)pp.1-3, (2024)
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