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Hysteresis Improvement of Low-Temperature Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors by N2O Plasma Surface Treatment
Dae Woong Kim,Kook Chul Moon, Hwarim Im,Yong-Sang Kim
Journal of Electrical Engineering & Technologyno. 4 (2025): 2537-2542
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NO Plasma Treatment Effects on the Structural and Electrical Properties of PECVD-Grown SiO2 Films
Yunhui Jang, Yeojin Jeong, Seokjin Jang, Taehyun Cho, Zhong Pan, Junzhe Zhang, Yumeng Guo, Kyesoo Kim,Yong-Sang Kim, Sangheon Park,Junsin Yi
ACS applied materials & interfacesno. 19 (2025): 28918-28926
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63‐1: Integrated Scan/Emission/Sweep Driver Circuit Based on CMOS LTPS TFTs for Micro‐LED Displays
Han Cheol Lee,Eun Kyo Jung,Hwarim Im,Yong-Sang Kim
SID Symposium Digest of Technical Papersno. 1 (2024): 857-859
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