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Soft Errors and NBTI in SiGe Pmos Transistors
D. M. Fleetwood,E. X. Zhang,G. X. Duan,C. X. Zhang,I. K. Samsel,N. C. Hooten,W. G. Bennett,R. D. Schrimpf,R. A. Reed,D. Linten,J. Mitard
2014 12TH IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON SOLID-STATE AND INTEGRATED CIRCUIT TECHNOLOGY (ICSICT) (2014)
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Development of a Resistive Memory-Based, Radiation-Hardened Cache Memory for Space Flight and Mission-Critical Applications
W Bennett,Nicholas C. Hooten,Ronald D. Schrimpf, R Reed, Matthias Alles, E.X Zhang, Stephanie L. Weeden-Wright, M. Jurczak,Dimitri Linten, A. Fantini
openalex（2014）
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Heavy-Ion and Laser Induced Charge Collection in SiGe Channel $p{\rm MOSFETs}$
E. Zhang, I. Samsel,N. Hooten, W. G. Bennett, E. Funkhouser, K. Ni, D. Ball,M. Mccurdy,D. Fleetwood, R. Reed,M. Alles,Peixiong Zhao, D. Linten, J. Mitard
IEEE Transactions on Nuclear Science（2014）
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