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Grain Boundary Scattering in Ru and Cu Interconnects
Troels Markussen,Shela Aboud,Anders Blom,Nicholas A. Lanzillo,Tue Gunst,Jonathan Cobb,Tim M. Philip,Robert R. Robison
2020 IEEE INTERNATIONAL INTERCONNECT TECHNOLOGY CONFERENCE (IITC)pp.76-78, (2020)
引用3浏览0EIWOS引用
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A Materials Screening Methodology for Scaled Non-Volatile Memory in the AI Era
Nicholas A. Lanzillo,Robert R. Robison
2019 IEEE Albany Nanotechnology Symposium (ANS) (2019)
引用0浏览0EIWOS引用
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