目前主要利用AES、XPS、SIMS等表面分析技术从事固体材料表面分析、结构表征等研究。已发表学术论文四十多篇。获2019年度中国分析测试协会科学技术奖-CAIA奖一等奖，2020年中国标准创新贡献奖二等奖。所负责的飞行时间二次离子质谱TOF.SIMS5获得2019年度清华大学大型仪器效益一等奖。