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Using X-mode L, R and O-mode Reflectometry Cutoffs to Measure Scrape-off-layer Density Profiles for Upgraded ORNL Reflectometer on NSTX-U.

C. Lau,J. B. Wilgen,J. B. Caughman,G. R. Hanson,J. Hosea,R. Perkins,P. M. Ryan,G. Taylor

Review of Scientific Instruments（2014）

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