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在清言上使用

Multiple-ellipse Fitting Method to Precisely Measure the Positions of Atomic Columns in a Transmission Electron Microscope Image.

Q. Zhang,C. H. Jin,H. T. Xu,L. Y. Zhang,X. B. Ren, Y. Ouyang, X. J. Wang,X. J. Yue,F. Lin

Micron(2018)

引用 38|浏览9
关键词
Multiple-ellipse fitting method,HRTEM,STEM,Quantitative analyses,Atomic column position
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