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A Quatro-Based 65-Nm Flip-Flop Circuit for Soft-Error Resilience

Y. -Q. Li,H. -B. Wang,R. Liu,L. Chen,I. Nofal,S. -T. Shi,A. -L He,G. Guo,S. H. Baeg,S. -J. Wen,R. Wong,M. Chen,Q. Wu

IEEE Transactions on Nuclear Science（2017）

引用 52|浏览96

关键词

Flip-Flop,Quatro,radiation hardness by design (RHBD),soft error

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