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Modeling Framework for Transistor Aging Playback in Advanced Technology Nodes

I Meric,S. Ramey,S. Novak, S. Gupta, S. P. Mudanai,J. Hicks

2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)（2020）

引用 14|浏览23
关键词
Aging,BTI,hot carrier,modeling,reliability
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