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Reliability Characterization for 12 V Application Using the 22FFL FinFET Technology.

C-Y Su,M. Armstrong,S. Chugh, M. El-tanani,H. Greve,H. Li, M. Maksudl, B. Orr,C. Perini,J. Palmer,L. Paulson,S. Ramey, J. Waldemer, Y. Yang,D. Young

IEEE International Reliability Physics Symposium（2020）

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关键词
FinFET,high voltage,reliability
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