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Electron Energy Analysis in Scanning Field Emission Microscopy Using a Bessel Box Energy Analyzer

M. Bodik,M. Demydenko,C. G. H. Walker,T. Baehler,T. Michlmayr,A-K Thamm,U. Ramsperger,A. Pratt,S. P. Tear,M. M. El Gomati,D. Pescia

Proceedings of the Microscience Microscopy Congress 2021 incorporating EMAG 2021（2021）

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关键词
Field Emission,Tungsten,Cesium,STM,EELS,Work Function
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