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Reliability and Magnetic Immunity of Reflow-Capable Embedded STT-MRAM in 16nm FinFET CMOS Process

Chia-Hsiang Chen,Chih-Yang Chang,Chih-Hui Weng, Tsung-Han Kuo,Chia-Yu Wang,Meng-Chun Shih,Tien-Wei Chiang,Yuan-Jen Lee,Roger Wang,Kuei-Hung Shen,Arthur Hung,Harry Chuang

2021 Symposium on VLSI Technology（2021）

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关键词

STT-MRAM,reliability,magnetic immunity

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