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Frequency Dependant Gate Oxide TDDB Model

M. Arabi,X. Federspiel,F. Cacho,M. Rafik,S. Blonkowski,X. Garros, G. Guibaudo

2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)（2022）

引用 7|浏览15

关键词

AC/DC,CMOS,frequency dependance,modeling,oxide reliability,TDDB

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