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Study of the Dynamic Compression Response of SiO 2 to Mbar Pressures Using In-Situ Femtosecond X-ray Diffraction and Ab Initio Simulations

Karen Appel,Markus Schoelmerich,C. A. Bolme,Eric Galtier,A. E. Gleason,Bob Nagler,Thomas R. Preston,R. Redmer, Raymond B. Smith,S. J. Tracy,T. Tschentscher,Lennart Wollenweber,U. Zastrau

Bulletin of the American Physical Society（2021）

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