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Niゲートにおける侵食欠陥形成AlGaN/GaN高電子移動度トランジスタ【Powered by NICT】

Patrick Whiting,M R Holzworth,Anders Lind,S. J. Pearton, Kachy Jones, L Liu, Tae-Shin Kang, Fengbo Ren, Xin Yang

Microelectronics Reliability（2017）

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