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X-ray Photoelectron Spectroscopy in the Analysis of Titanium and Palladium Nanolayers

G. Wesolowski,A. Kubala-Kukus,D. Banas,K. Szary,I. Stabrawa, A. Foks,L. Jablonski,P. Jagodzinski,M. Pajek,R. Stachura,D. Sobota,M. Borysiewicz, O. Sadowski

ACTA PHYSICA POLONICA A（2024）

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关键词

Ti and Pd nanolayers,X-ray photoelectron spectroscopy (XPS),total reflection XPS

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