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Raman-based Mapping and Depth-Profiling of the Relaxation State in Amorphous Silicon

A. W. Lussier, D. Bourbonnais-Sureault,M. Chicoine,R. Martel,L. Martinu,S. Roorda,F. Schiettekatte

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS（2024）

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关键词

Amorphous Oxide Semiconductors

AI 理解论文

溯源树

样例

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