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Surface Structure of Movpe-Prepared As-Modified Si(100) Substrates

Chris Yannic Bohlemann,Aaron Floetotto,Agnieszka Paszuk,Manali Nandy,Max Grossmann,Oleksandr Romanyuk,Kai Daniel Hanke, Aaron Giess,Peter Kleinschmidt,Erich Runge,Thomas Hannappel

Applied Surface Science（2024）

引用 1|浏览1

关键词

Si(100),III-V-on Si,Low-defect growth,MOVPE,Surface structure analysis,DFT

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