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Surface Roughness Engineering for Improvement of Cycle-to-cycle Variability of RRAM

Wooho Ham,Young-Woong Song,Jeong Hyun Yoon,Sein Lee,Jeong-Min Park,Junseo Lee,Jang-Yeon Kwon

Applied Surface Science（2024）

引用 1|浏览5

关键词

Pt/znO/si RRAM,Roughness,Reliability,Temporal reliability

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