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Single-Event Functional Interrupt Mapping of Cm-Size Microprocessor Using Ion Microbeam

Jinlong Guo, Wenbo Tian,Guangbo Mao, Hongjun You,Can Zhao,Ruqun Wu, Wenjing Liu,Cheng Shen,Hongjin Mou, Lei Zhang,Guanghua Du

IEEE Transactions on Nuclear Science（2025）

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关键词
SEFI,Microprocessor,Ion Microbeam,Mapping
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