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Determining GaN HEMT Trap Models from MHz Load-line Measurement — Synthesis and Evaluation

Petros Beleniotis,Cristina Andrei, Ulrich L. Rohde,Matthias Rudolph

2025 16th German Microwave Conference (GeMiC)(2025)

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关键词
Compact modeling,load-line,model parameter extraction,GaN HEMT,ASM-HEMT
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